您的位置:首页>>产品中心>>电化学测定仪器>>正文

MTZ-35阻抗分析仪

       MTZ-35是专门用于材料特性表征的阻抗分析仪,频率范围覆盖10μHz-35 MHz

       MTZ-35可以与HTF-1100高温炉配合使用,以研究宽温度范围内(室温到1100℃)的材料性质。

       建议两个主要的样品支架:HTSH-1100,用于高温;CESH,用于环境温度~ 150℃(最高)。

应用:

  • 环氧树脂                                     
  • 液晶
  • 铁电体
  • 生物细胞
  • 极性液体
  • 陶瓷
  • 太阳能/光伏电池
  • 传感器
  • 橡胶
  • 聚合物
  • 纳米材料

利用阻抗图谱计算介电常数:

ω=2 π f                                 f   为测得阻抗频率值

电容C=1/( ω*z’’)               z’’ 为测得阻抗虚部值

电容C=S*ε / 4π Kd                K 为静电常数  9E+09

介电常数ε=4π KdC/S            d 为薄膜厚度

                                             S 为薄膜面积

介电损耗D=1/tan θ              Z’ 为测得阻抗实部值