2024年的11月18日至21日，国际标准化组织颗粒表征筛分法以外的粒度分析方法技术委员会(ISO/TC24/SC4)第67次会议在美丽宜居的海滨城市广东省珠海市举行，对颗粒表征技术的国际标准进行制定与修订。这是中国第四次承办ISO/TC24/SC4工作会议，中国国际标准化组织总负责人李玉冰女士到会祝贺。

由于疫情和交通的后续影响，本届会议采用线上和线下同时进行，中国派出了20人以上规模的专家代表团。自2006年首次参加ISO会议以来，杨正红总经理作为中国颗粒表征与分检及筛网标准化技术委员会委员（SAC/TC168）和ISO注册专家再次出席了会议，并参加了WG1（粒度分析结果的数据表达）、WG3（孔径分布和孔隙率）、WG8（图像法粒度分析）以及WG17（Zeta 电位测定方法）工作组会议。