MTZ-35阻抗分析仪
MTZ-35是用于材料特性表征的阻抗分析仪，频率范围覆盖10μHz-35 MHz。
MTZ-35可以与HTF-1100高温炉配合使用，以研究宽温度范围内（室温到1100℃）的材料性质。
建议两个主要的样品支架：HTSH-1100，用于高温；CESH，用于环境温度~ 150℃（最高）。
应用：
- 环氧树脂
- 液晶
- 铁电体
- 生物细胞
- 极性液体
- 陶瓷
- 太阳能/光伏电池
- 传感器
- 橡胶
- 聚合物
- 纳米材料
利用阻抗图谱计算介电常数：
ω=2 π f f 为测得阻抗频率值
电容C=1/( ω*z’’) z’’ 为测得阻抗虚部值
电容C=S*ε / 4π Kd K 为静电常数 9E+09
介电常数ε=4π KdC/S d 为薄膜厚度
S 为薄膜面积
介电损耗D=1/tan θ Z’ 为测得阻抗实部值
